Fischerscope HM2000微納米壓痕測(cè)量系統(tǒng)

• 更新時(shí)間：2020-12-01
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Fischerscope HM2000微納米壓痕測(cè)量系統(tǒng)一款根據(jù)載荷/壓痕深度法**測(cè)定馬氏硬度的界面友好而強(qiáng)大的測(cè)量系統(tǒng)。并且，其他重要材料特征，如：維氏硬度、壓入彈性模量、或者蠕變行為也可以確定。主要應(yīng)用領(lǐng)域包括油漆涂料、電鍍鍍層、硬質(zhì)涂層、聚合物、金屬和玻璃上的涂層等。

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Fischerscope HM2000微納米壓痕測(cè)量系統(tǒng)

篤摯儀器（上海）有限公司是德國(guó)菲希爾Fischer合作多年的正規(guī)代理商，專(zhuān)業(yè)代理供應(yīng)德國(guó)Fischer便攜式涂鍍層測(cè)厚儀，鍍銅測(cè)厚儀，庫(kù)侖測(cè)厚儀，鐵素體含量檢測(cè)儀器，電導(dǎo)率儀，防腐涂層測(cè)厚儀，校準(zhǔn)片標(biāo)準(zhǔn)片，探頭等，一直致力于為客戶提供有關(guān)Fischer產(chǎn)品的技術(shù)性支持和建議，并提供理想解決方案。

Fischerscope HM2000微納米壓痕測(cè)量系統(tǒng)一款根據(jù)載荷/壓痕深度法**測(cè)定馬氏硬度的界面友好而強(qiáng)大的測(cè)量系統(tǒng)。并且，其他重要材料特征，如：維氏硬度、壓入彈性模量、或者蠕變行為也可以確定。主要應(yīng)用領(lǐng)域包括油漆涂料、電鍍鍍層、硬質(zhì)涂層、聚合物、金屬和玻璃上的涂層等。Fischerscope HM2000微納米壓痕測(cè)量系統(tǒng)的測(cè)試負(fù)載范圍在0.1到2000mN，小于100pm的位移分辨率。HM2000 S 是一款測(cè)量微硬度的入門(mén)級(jí)臺(tái)式儀器，特別適合測(cè)量定位方便的樣品。如需用于自動(dòng)測(cè)量，則具備可編程運(yùn)行的XY平臺(tái)和電動(dòng)驅(qū)動(dòng)Z軸的HM2000是合適的選擇。這兩種型號(hào)都有震動(dòng)吸收系統(tǒng)和多種樣品定位裝置可供選配。

特性：

    • 眾多塑性與彈性特性的測(cè)定，例如壓痕硬度（可轉(zhuǎn)換為維氏硬度）、壓痕模量以及蠕變
    • 符合 DIN EN ISO 14577-1 與 ASTM E 2546 標(biāo)準(zhǔn)的材料參數(shù)測(cè)量與計(jì)算
    • 模塊化構(gòu)造使其能夠靈活適應(yīng)客戶特定要求，可追溯性更強(qiáng)
    • 壓頭：維氏、柏氏或硬質(zhì)合金球
    • 測(cè)量頭，適用于在恒定溫度下進(jìn)行的長(zhǎng)達(dá)數(shù)小時(shí)的蠕變測(cè)量
    • 具有三種倍率的顯微鏡，適用于測(cè)量點(diǎn)的準(zhǔn)確定位
    • 通過(guò)快速行進(jìn)實(shí)現(xiàn)自主、高度準(zhǔn)確的零位測(cè)定
    • 適用于多測(cè)量點(diǎn)自動(dòng)化測(cè)試的可編程 XY 工作臺(tái)
    • 通過(guò)高性能 WIN-HCU 軟件快速評(píng)估并清晰地呈現(xiàn)測(cè)量結(jié)果

應(yīng)用：

    • 研發(fā)中的表面表征，例如醫(yī)用植入物的硬鉻或陶瓷涂層
    • 復(fù)雜幾何形狀（如套管）上的硬度測(cè)試
    • 電鍍行業(yè)中部件批量生產(chǎn)的連續(xù)測(cè)試
    • 電路板的質(zhì)量保證，例如薄金鍍層的電阻測(cè)試或絕緣層控制
    • 測(cè)試金屬箔的韌性與強(qiáng)度
    • 針對(duì)決定磨損的性能測(cè)量，例如 PVD 或 CVD 涂層以及硬質(zhì)材料（如氮化鈦、氮化鉻以及氮化鋁鈦涂層）的硬度與強(qiáng)度
    • 薄 DLC 涂層的機(jī)械性能、彈性以及塑性特性
    • 油漆涂層的硬度與彈性測(cè)量，例如汽車(chē)車(chē)漆
    • 測(cè)試陽(yáng)極氧化層的機(jī)械性能（硬質(zhì)陽(yáng)極氧化層）
    • 驗(yàn)證涂層的耐刮擦性與耐磨性
    • 針對(duì)多個(gè)樣品進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)量

附件（可選）：

    • 封閉的測(cè)量艙以避免外界干擾，如來(lái)自空調(diào)機(jī)組的氣流
    • 主動(dòng)阻尼工作臺(tái)，以減少振動(dòng)影響
    • 可加熱的樣品覆蓋層，用于在溫度不斷升高的情況下進(jìn)行材料測(cè)試
    • 原子力顯微鏡 (AFM)：記錄樣品的三維表面并測(cè)量其他材料參數(shù)，如摩擦特性
    • 高精度定位臺(tái)，可實(shí)現(xiàn) < 500 nm 的定位精度
    • 更強(qiáng)大的顯微鏡，具有自動(dòng)對(duì)焦與自動(dòng)對(duì)象識(shí)別功能
    • 適用于不同樣品的樣品夾具

應(yīng)用實(shí)例：

Fischerscope HM2000微納米壓痕測(cè)量系統(tǒng)