hommel waveline 20粗糙度測量儀

• 更新時間：2024-05-29
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hommel waveline 20粗糙度測量儀
我們的粗糙度測量儀非常準確和可靠。 它們是日常生產中的理想選擇，并且操作簡單，可節(jié)省您的時間，成本和資源。 我們多年的經驗和廣泛的專業(yè)知識意味著我們對客戶的不同要求非常熟悉。 我們很樂意根據您的工件測量任務量身定制粗糙度測量系統(tǒng)。

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hommel waveline 20粗糙度測量儀

面向生產現(xiàn)場的移動式粗糙度、波紋度及輪廓測量儀

您可以使用粗糙度測量儀來測量工件的表面紋理。 提供各種測量系統(tǒng)-從用于移動應用的緊湊型便攜式儀器和用于復雜測量任務的固定系統(tǒng)，再到客戶特定的測量站。

我們的粗糙度測量儀非常準確和可靠。 它們是日常生產中的理想選擇，并且操作簡單，可節(jié)省您的時間，成本和資源。 我們多年的經驗和廣泛的專業(yè)知識意味著我們對客戶的不同要求非常熟悉。 我們很樂意根據您的工件測量任務量身定制粗糙度測量系統(tǒng)。

緊湊輕便
•通過彩色觸摸屏實現(xiàn)交互式操作
•測頭自動定位在工件表面上，所以調整的耗時少
•用于測量標準所有常見粗糙度、波紋度和輪廓參數的自由探測系統(tǒng)
•通過內置的粗糙度標準件對測量儀進行即時檢測

•易更換的基準面測頭
•用于即時打印測量結果的一體化打印機
•共有7個測量程序，另加1個用于儀器檢測的測量程序

具有自動探測系統(tǒng)的驅動箱
•用于單手操作的一體化起動鍵
•高精度線性導軌
•測量速度可變
•軟件支持的基準面校正
•能在所有位置測量（包括仰測）
•適合于所有基準面測頭的產品系列

測頭電動下降
•針尖自動定位在工件表面并調整所需量程

•移動使用時，測量結束后針尖自動抬起，從而可預防無意損傷

移動式基準面測量
•移動應用時精密測量粗糙度、波紋度和輪廓
•確定未經過濾的P參數和W參數
•適用于密封面測量

通過觸摸屏實現(xiàn)上下文操作
•具有4個基本功能的功能鍵條
•多種公差評價方法
•用戶數據的輸入快捷舒適
•概覽性描述結果
•結果視圖：參數、輪廓描述、互動式阿爾伯特曲線描述、各種各樣的統(tǒng)計功能

一體式熱敏打印機
•立即記錄測量結果
•簡易裝紙功能
•打印帶公差評價、輪廓、阿爾伯特曲線、附加輸入以及統(tǒng)計的測量結果

測頭TKl 300l 標準測頭，用于測量平面、軸和直徑4 mm以上內孔的R，W和P輪廓參數。 量程±300 µm *大水平探測深度30 mm 配2 µm/90°針尖 商品號1000 4132 配5 µm/90°針尖 商品號243 588	測頭TKlK 100/5 用于測量直徑1 mm以上的小孔。 量程±100 µm *大水平探測深度5 mm 配2 µm/90°針尖 商品號233 280 配5 µm/90°針尖 商品號M0 435 035
測頭TKlQ 100/17 配有針對橫向測量專門設計的支承，用于測量深槽、凹槽或開擋。 量程±100 µm *大水平探測深度17 mm 配2 µm/90°針尖 商品號231 207 配5 µm/90°針尖 商品號1004 4932	測頭TKlT 100/17 用于測量深槽。 量程±100 µm 垂直/水平探測深度13/17 mm 配2 µm/90°針尖 商品號552 726 配5 µm/90°針尖 商品號224 835

hommel waveline 20粗糙度測量儀